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010-68456100- 详细描述
- 技术资料
N5831系列分布式超级电容模组/PACK容量内阻测试仪
对超容充/放电容量、充/放电等效串联内阻（DCIR）、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量
N5831系列为NGI公司针对超级电容研发和生产而自主设计开发的超级电容模组/PACK容量内阻测试仪。N5831系列可对超级电容充电容量、放电容量、充电等效串联内阻（DCIR）、放电等效串联内阻（DCIR）、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。N5831系列可提供多种测试方法，用户可根据需要灵活选择。N5831系列上位机软件支持平台化测试应用，用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件，测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCEL、JPG文件。
金彩汇 ■ 电压范围：0-200V
电流范围：0-1200A ■ 转换速度快，恒压恒流过程转换速度高达1ms
■ ■ ■ ■ ■ DCIR测量支持多种主流模式，应用灵活
支持分选功能，客户可根据自己规格指标设定分选等级
标准19英寸机箱，节省宝贵空间
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容量测量
N5831可测量超级电容容量参数，含充电容量和放电容量。测试方法为： 对被测超级电容以恒定电流进行充（放）电，在充（放）电过程中记录时 间和电压参数，通过计算充（放）电过程中电压对时间的斜率计算容量。 用户可根据IEC等各种测量标准自行选择电压、时间参数进行计算。
充电容量计算公式：
放电容量计算公式： 
其中：Ur表示额定电压 U1表示充电容量计算起始电压 ； U2表示充电容量计算截止电压 U3表示放电容量计算起始电压 ； U4表示放电容量计算截止电压 I1表示充电电流 ； I2表示放电电流
金彩汇 N5831具有丰富内阻测试功能，支持业内多种主流DCIR 测试方法：多脉冲法、单脉冲法、充转方法、六步测试法、 IEC测试法，可满足绝大部分用户测试需求。NGI核心测 试技术确保在各种测试方法中获取高精度内阻测量需求。
直流等效内阻计算公式：
<span font-size:16px;color:#000000;"="" style="margin: 0px; padding: 0px; -webkit-tap-highlight-color: transparent; box-sizing: border-box; line-height: 2;"> N5831可通过重复充放电循环测试，测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。
