金彩汇

       ■  电压范围：0-6V

       ■  恒流充电、恒流放电、恒压充电、循环寿命、充电容量，放电容量、DCIR(直流等效内阻)等参数测试

金彩汇        ■  采样&通讯传输间隔高达1ms，完全真实还原测试过程数据

金彩汇        ■  充转放过程无缝切换，无过充过放

       ■  功能丰富的上位软件，支持生产分选功能

金彩汇        ■  每通道对应状态指示灯，分选更方便

       ■  强大的数据存储与分析功能 

金彩汇        ■  百兆以太网通讯

金彩汇        ■  兼容A/h、W/h、F等多种容量测试方法

容量测量

       N8130可测量超级电容容量参数，含充电容量和放电容量。测试方法为：对被测超级电容以恒定电流进行充（放）电，在充（放）电过程中记录时间和电压参数，通过计算充（放）电过程中电压对时间的斜率计算容量。用户可根据IEC等各种测量标准自行选择电压、时间参数进行计算。

       充电容量计算公式：

       放电容量计算公式：

金彩汇        其中：Ur表示额定电压/U1表示充电容量计算起始电压 /U2表示充电容量计算截止电压U3表示放电容量计算起始电压 / U4表示放电容量计算截止电压I1表示充电电流 / I2表示放电电流

      N8130可通过重复充放电循环测试，测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。 

金彩汇       超级电容测试过程中需要输出较大电流，测试线将会引入较大电压降（线损），影响测量精度。N8130全系列型号均采用四线制接线方式，直接采集超级电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差，从而确保测量精度。

金彩汇       考虑到不同规模的测试应用场景，NGI提供两种测试夹（治）具供用户选择：开尔文夹、12通道专用治具。两种测试夹（治）具均为四线制接法。